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輻照度計 - 紫外輻照計 型號/圖片

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美國ILT2400輻照計SED185探頭185nm臭氧殺菌探測器UV光解廢氣

International Light ILT2400輻照計專用SED185/NS185臭氧殺菌探測器安裝了窄帶濾光片,響應(yīng)光譜范圍165~200nm ,中心波長185nm,專為測量低強度185nm波長的臭氧殺菌紫外線輻照度,應(yīng)用于與光解廢氣、水處理和表面殺菌行業(yè)。

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路昌UVC-254A紫外線輻照計254nm波長輻射強度測量199.9uW~19.99mW/cm2

路昌紫外線輻照計UVC-254A照度計是專業(yè)高品質(zhì)UV表,中心點254nm光譜響應(yīng)范圍,測量波段248~260nm,寬量程199.9uW/cm2、1.999mW/cm2、19.99mW/cm2,帶補正濾光鏡的專用UV探頭,應(yīng)用于紫外線殺菌、光學(xué)匹配、實驗室研究。

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Sentry先馳ST-512紫外照度計UVC紫外輻照計254nm波長

臺灣先馳ST-512紫外線照度計測量波段范圍220~275 nm,校準波長254nm,測量單位mW/cm2或W/cm2可選,適合于測量滅菌紫外燈、理療、螢光分析、紫外光刻、水處理、育種等領(lǐng)域,帶背光液晶4位數(shù)字顯示。

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美國IL國際光學(xué)ILT2400+XSD340A輻照計320-475nm紫外線光阻劑曝光測量

International Light ILT2400輻照計和XSD340A探頭組成的測量系統(tǒng)可用于PCB印刷線路板光刻膠工藝,可測量320-475nm光阻劑作用光譜,校準于405nm,光探測器可承受輻照強度范圍8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025認證校準報告,保證測量結(jié)果精確可靠。

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以色列ophir Vega激光功率計能量計200-1700nm波長0.15-20um激光

以色列OPHIR VEGA手持式激光功率能量計是一款彩色多功能通用型測量主機,可以配合OPHIR任何一款熱電堆、光電或熱釋電探頭匹配使用,響應(yīng)光譜范圍涵蓋紫外至紅外波長200-1700nm、短脈沖激光至高能量激光0.15-20um,可存儲20萬個數(shù)據(jù),內(nèi)置USB和RS232接口與計算機通訊。

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美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長30W/cm2高功率曝光

國際光學(xué)International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統(tǒng)用于326-401nm波段紫外線輻照度監(jiān)測,校準于365nm光阻劑作用光譜,精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度,可測量高達30W/cm2 高強度,用于PCB印刷電路板光及半導(dǎo)體業(yè)。

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peifbnu紫外輻照計UVB

北師大光電UVB紫外線輻照計254nm殺菌燈輻照度測量

UV-B紫外輻照計測量紫外線波長范圍λ=230~275nm/λp=254nm,或λ=275~330nm/λp=297nm,0.1~199900μW/cm2自動量程切換,響應(yīng)時間1秒,適用于殺菌、光刻、水處理、醫(yī)療、育種等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

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[已改款]美國ILT2400-222UV輻照計222nm準分子UVC LED紫外殺菌光源測量驗證帶校準證書

International Light ILT2400-222UV輻照計經(jīng)過專門配置和校準,具有經(jīng)ISO17025認可的NIST可追溯校準證書,可測量220-222nm準分子燈輻射照度,輻照度8 nW/cm2至4 mW/cm2,劑量范圍8 nJ/cm2至數(shù)百萬mJ/cm2,用于窄帶UVC紫外殺菌消毒系統(tǒng)中的光源測量驗證,幫助抗擊COVID-19新冠病毒和其他傳染病。

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peifbnu紫外輻照計UVA

北師大光電UVA輻照計365nm波長UV-A紫外線輻射量程199.9mW/cm2

UV-A紫外輻照計新款自動量程型號可手動/自動量程切換,測量上限199.9 mW/cm2,分辨率0.0001 mW/cm2,響應(yīng)光譜范圍320~400nm,中心波長365nm,適用于光化學(xué)、高分子材料老化、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

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美國International Light ILT800輻照計輸送帶式UV固化曝光能量計

International Light ILT800能量計以其215nm至475nm的寬光譜測量范圍覆蓋了各種測光需求,緊湊型一體化設(shè)計,特別適合用于測量每分鐘1~80英尺的傳送帶式曝光設(shè)備的曝光量,可應(yīng)對紫外線固化設(shè)備中常見的極端環(huán)境條件。

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