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美國ILT2400輻照計SED005/UVF/A313探頭UV LED能量計350-400nm

International Light ILT2400輻照計及SED005/UVF/A313探頭專門為提高UV LED曝光機測量系統(tǒng)精確度而設(shè)計,在UV固化作用光譜350~400nm區(qū)域提供更均勻的響應(yīng),輻照度測量范圍0.05μW/cm2~800mW/cm2,可添加峰值波長的PIR校準過濾片,帶美國NIST可溯源ISO17025認證校準報告。

紫外輻照計品牌:美國International Light
美國International Light

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SED005-UVF-A313說明書
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SED005-UVF-A313圖片

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美國International Light SED005-UVF-A313 紫外輻照計規(guī)格參數(shù)與圖片

美國ILT品牌為各種市場和應(yīng)用提供高精度的光測量系統(tǒng),包括照度計、輻照計、能量計,滿足廣泛的需求,解決光測量的固有困難。國際光學(xué)International Light測光表非常適合用作光度計photometers (勒克斯lux meters)、強度計intensity meters (坎德拉candela)、固化測量儀/輻照度計/光量計curing meters (劑量和曝光測量dose and exposure meters)、能量功率計power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。

 

ILT UV固化測量輻照計ILT2400帶NIST可溯源ISO17025認證校準的儀表和傳感器,測量速度高達100μs,內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時,4.3寸觸摸屏顯示,可橫向和縱向觀看,以手持式的價格提供研究級的質(zhì)量。

 

大多數(shù)UV紫外線探頭過濾器具有鐘形光譜曲線,峰值相當窄。為了提高UV LED測量系統(tǒng)的精確度,美國ILT公司將高度穩(wěn)定的InGaAsp傳感器與平坦的玻璃濾光片和石英漫射片相結(jié)合,在用于UV固化的關(guān)鍵區(qū)域提供更均勻的響應(yīng)。ILT2400輻照計+SED005/UVF/A313探頭組成的測量系統(tǒng)旨在簡化對UV LED曝光機固化的校準測量,專有的傳感器/濾波器/光學(xué)組件由美國ILT的工程團隊設(shè)計,可提供350-400 nm波段近乎平坦的響應(yīng)。這種平坦的一致的響應(yīng)允許測量和比較各種紫外LED波長,而不需要修改讀數(shù)以適應(yīng)傳感器靈敏度的變化。這個系統(tǒng)也可以用來測量傳統(tǒng)的紫外線源。

 

美國International Light SED005/UVF/A313 UV-LED固化探頭規(guī)格

應(yīng)用:UV LED固化測量、傳統(tǒng)紫外線固化能量輻照度

測量范圍: 5e-8至8e-1 W / cm2(0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2)

光譜范圍: 275-450nm (在UVLED主要作用波段350-400 nm具有平坦的響應(yīng)曲線)

尺寸:直徑29 x 42mm

訂購部件號

ILT2400+SED005/UVF/A313(可選特定峰值波長的PIR校準,250-450nm /每1、2或5 nm的掃描校準也可用)

 

A313擴散器也可提供1、3、5和7毫米孔徑,允許測量更小的區(qū)域,例如聚焦的光束,以便于區(qū)域測繪,并且還可以測量更高的強度。另有XSD005UVF薄型UV LED固化傳感器,內(nèi)置過濾器和光學(xué)元件,不能外部添加過濾片/光學(xué)交換元件,它的尺寸更小,為15 mm x 42 mm直徑。ILT國際光學(xué)UV LED固化輻照計規(guī)格說明書http://m.oznappies.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf

 

International Light國際光學(xué)UV固化測量輻照計型號參數(shù)表

輻照計探頭測量系統(tǒng) 響應(yīng)波長 輻照度范圍 類型及應(yīng)用
ILT800  CureRight輻照計
ILT800-UVA:315-390 nm
ILT800-BAV:275-475 nm
ILT800-UV:250-400 nm
ILT800-UVC:215-350 nm
ILT800-UVF:平坦響應(yīng)
360-400 nm Flat, (275-450nm)
315-475 nm 5e-3 ~ 40 W/cm2 扁平,UV固化,UV烤箱,傳送帶曝光輻射
ILT2400, XSD340AT7 320-475 nm 8e-6 ~ 60 W/cm² 手持式,405nm紫外線UV固化,3D打印機
ILT2400, XSD340AT7, XIR395 395nm 8e-6 ~ 60 W/cm² 手持式,UV固化等,校準于395nm
ILT5000, SED005/WBS320/W 250-400 nm 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² 臺式/實驗室,UV固化,寬帶紫外線
ILT2400, SED005/WBS320/W 250-400 nm 1e-7 ~ 1 W/cm² 手持式,UV固化,寬帶紫外線
ILT5000, SED005/NS335/W 330-340 nm 5e-9 ~ 5 W/cm² 臺式/實驗室,UV固化,窄帶335
ILT2400, SED005/NS335/W 330-340 nm 5e-7 ~ 5 W/cm² 手持式,UV固化/光輻射危害,窄帶335nm
ILT5000/SED270/QT 215-350 nm 1e-9 ~ 1 W/cm² 臺式/實驗室,UV固化,UV LED
ILT5000, SED033/B/QNDS2/W 326-401 nm 3e-8 ~ 20 W/cm² 臺式/實驗室,UV固化,氙氣閃光燈
ILT5000, SED005/WBS320/RAMP 250-400 nm 5e-7 ~ 100 W/cm² 臺式,UV固化,Low profile high UV
ILT2400, SED005/WBS320/RAMP 250-400 nm 5e-7 ~ 100 W/cm² 手持式,UV固化,Low profile high UV
ILT1700, SSD001A 250-400 nm 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² 臺式,UV固化,Low profile high UV
ILT2400, SSD001 260-400 nm 6e-6 ~ 0.9 W/cm² 手持式,UV固化,Low profile high UV
ILT2400/SED270/QT 215-350 nm 7e-8 ~ 1 W/cm2 手持式,UV固化,UV-LED能量計
ILT2400, SED005/UVF/A313輻照計 275-450 nm 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 手持式,UV固化,UV LED曝光輻照計
ILT2400, XSD005UVF集成薄探頭 275-450 nm 5e-8 ~ 0.8W/cm2  UVLED固化能量計 ,350-410nm平面響應(yīng)
ILT5000, SED005/NS335-II/W 327-342 nm 3e-9 ~ 2 W/cm2 臺式/實驗室,UV固化,窄帶335
ILT2400, SED005/NS335-II/W 327-342 nm 2e-7 ~ 2 W/cm2 手持式,UV固化,窄帶335
ILT2470XE UV Flash Meter 215-350 nm 7e-5 ~ 2 W/cm2 手持式,UV固化,閃爍/脈沖或CW光源

 

美國ILT光探測器探頭濾片/輸入元件/校準項代碼解析

A光刻膠過濾器:定制濾波器設(shè)計用于提供硅傳感器的“A”響應(yīng)(320-475 nm)

B光阻過濾器:濾波器旨在提供硅探測器的“B”響應(yīng)(326-401 nm)

NS185窄帶濾光片:紫外線,中心波長為185nm的干涉濾光片

NSXXX UV窄帶濾光片:中心波長為XXX納米的干涉濾光片,如NS254、NS313、NS335、NS365

QNDS1中性密度濾光片,10倍衰減;QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰減過濾片

WBSXXX寬帶濾光片:中心波長為XXX納米的玻璃過濾器,如WBS320、WBS350、WBS375,通常與SED005探頭組合

TBLU:藍色濾光片和危險過濾器,安裝用于硅探測器; 

UVF:平坦響應(yīng)曲線探頭,用于UV LED固化測量;

W擴撒器:用于ILT探測器的固體石英內(nèi)半球擴散器,用于200-2100 nm的余弦響應(yīng)

A313:扁平石英分散器,安裝在A311空的過濾器環(huán)(高達4mm厚的過濾器)中

TD擴撒器:用于ILT探測器的圓頂式聚四氟乙烯擴散器,用于250-700 nm的光譜范圍

AT衰減器帽:提供X10衰減,沒有螺紋,滑到探測器的末端

QT:11mm特氟龍石英窗口擴散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser;

XIR校準選項:

X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)

At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm

美國International Light輻照度計